krautkramer cl5測厚儀 上海的詳細資料：

krautkramer cl5測厚儀 上海

Krautkramer Ultrasonic Systems - is the world's largest manufacturer and supplier of ultrasonic materials testing equipment. Our products are used mainly to test materials such as steel or plastic for cracks and defects, and to measure material thickness either as part of a manufacturing cycle or during the life of a product or component. Krautkramer超聲波系統(tǒng)-是世界上*大的超聲波材料測試設(shè)備制造商和供應(yīng)商。我產(chǎn)品主要用于測試鋼材或塑料等材料的裂紋和缺陷，并測量材料厚度，無論是作為制造周期的一部分，還是在產(chǎn)品或組件的使用壽命期間。
GE's Inspection Technologies business brands include Agfa NDT, Everest VIT, Hocking NDT, Krautkramer, Nutronik, phoenix|x-ray, and Seifert.

Krautkramer CL5級無損檢測儀器：
cl 5–簡單可靠、簡單可靠的擴展文件類型存儲每個測量點的厚度值、速度設(shè)置和其他關(guān)鍵數(shù)據(jù)。因此，cl 5和ultramate®可實現(xiàn)*的測試數(shù)據(jù)管理。cl 5應(yīng)用cl 5是一個易于使用的準(zhǔn)確厚度測量解決方案。

無損檢測產(chǎn)品-測厚
Krautkramer cl 5-無損檢測產(chǎn)品有限公司Krautkramer cl 5無損檢測產(chǎn)品

美國GE/德國Krautkramer公司CL5高精度測厚儀體積小巧，功能豐富。
L5精密測厚儀具有功能全面、使用簡便、體積小巧和結(jié)構(gòu)牢固的優(yōu)點。位于顯示屏正下方的3個軟鍵啟動所顯示菜單上的各種功能。利用四個方向鍵可以簡單而高效地切換菜單和瀏覽文本輸入畫面。圖形顯示為用戶提供了6種不同的操作模式。用戶可以在常規(guī)、小值掃描、大值掃描、差值/減薄率、厚度+A掃描(選件)或聲速測試(選件)中進行選擇。CL 5采用可編程數(shù)據(jù)記錄器，可以方便在電腦上設(shè)置數(shù)據(jù)文件。SD卡存儲系統(tǒng)將所有數(shù)據(jù)記錄和設(shè)置信息存儲在可拆卸SD存儲卡上。將測厚儀直接插入電腦后，文件的格式允許進行拖放操作。其它數(shù)據(jù)，比如數(shù)碼照片，也可以存儲在同一張SD卡上。

Krautkramer CL5高精度超聲波測厚儀這一體積小巧、功能多樣的儀器還具有以下這些優(yōu)點：
高測量性能提供具有高度穩(wěn)定性和可重復(fù)性的厚度值
六種測量和顯示模式：常規(guī)、小厚度捕獲、大厚度捕獲、差值和減薄率、聲速測試(要求配有CL 5V選項)和厚度+A掃描(要求配有實 時A掃描選項)
所有型號都具有A掃描快照功能
空心/實心厚度值指示耦合或非耦合狀態(tài)
可視LED報警提醒用戶測量超出了用戶可以選擇的極限值。
用于特殊配置的客戶參數(shù)設(shè)置以及快速儀器設(shè)置
靈活的電源系統(tǒng)，可通過標(biāo)準(zhǔn)AA電池或可充電電池組供電。
多語言用戶界面
自動超聲波調(diào)節(jié)性能(增益和閘門控制)
支持多種類的標(biāo)準(zhǔn)探頭

其他特點：

超聲波參數(shù)的自動控制（增益和門控制）
六種不同的測量和顯示模式，適用于特定應(yīng)用的操作
各種接觸和延遲線探頭
可選現(xiàn)場A掃描和可編程數(shù)據(jù)記錄器，帶SD存儲卡
聲速測定的可選速度模式
該儀器可以一手拿著或放在平面工件上，使CL5成為一種緊湊的方式來測試材料的所需厚度或檢查板材腐蝕。

應(yīng)用：

CL5是一種易于使用的精密厚度測量解決方案，適用于汽車和航空航天工業(yè)中使用的部件，例如：
由鋁、鋼、銅、青銅制成的鑄造和沖壓金屬部件
機加工工件
化學(xué)研磨成分
金屬條、金屬板
塑料和復(fù)合材料
玻璃

Krautkramer CL5高精度超聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)

Krautkramer CL5高精度超聲波測厚儀探頭技術(shù)數(shù)據(jù)