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便攜式泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO

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快速精準(zhǔn)測(cè)量：采用金剛石測(cè)針與壓電傳感器技術(shù)，通過(guò)機(jī)械垂直移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)化算法實(shí)時(shí)計(jì)算粗糙度參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等）

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便攜式泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO的詳細(xì)資料：

泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC S128關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍：Ra 0.1μm-40μm（標(biāo)準(zhǔn)配置），擴(kuò)展至199μm（需特定型號(hào)）

精度：Ra和Rz精度均為±0.1μm

行程與取樣長(zhǎng)度：行程5mm，取樣長(zhǎng)度0.8mm±15%

續(xù)航能力：內(nèi)置鋰電池支持單次充電2000+次測(cè)量，可選配太陽(yáng)能移動(dòng)電源

應(yīng)用領(lǐng)域

重工業(yè)：造船、管道、鋼板檢測(cè)

航空航天：渦輪葉片、機(jī)翼復(fù)合材料磨損監(jiān)測(cè)

其他場(chǎng)景：印刷輥、地板、玻璃制造等生產(chǎn)線質(zhì)量控制

維護(hù)與校準(zhǔn)

校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：標(biāo)配雙校準(zhǔn)蓋，用于儀器校準(zhǔn)和測(cè)針磨損檢查，確保測(cè)量可追溯性

關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍：Ra 0.1μm-40μm（標(biāo)準(zhǔn)配置），擴(kuò)展至199μm（需特定型號(hào)）

精度：Ra和Rz精度均為±0.1μm

行程與取樣長(zhǎng)度：行程5mm，取樣長(zhǎng)度0.8mm±15%

續(xù)航能力：內(nèi)置鋰電池支持單次充電2000+次測(cè)量，可選配太陽(yáng)能移動(dòng)電源

應(yīng)用領(lǐng)域

重工業(yè)：造船、管道、鋼板檢測(cè)

航空航天：渦輪葉片、機(jī)翼復(fù)合材料磨損監(jiān)測(cè)

其他場(chǎng)景：印刷輥、地板、玻璃制造等生產(chǎn)線質(zhì)量控制

維護(hù)與校準(zhǔn)

校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)：標(biāo)配雙校準(zhǔn)蓋，用于儀器校準(zhǔn)和測(cè)針磨損檢查，確保測(cè)量可追溯性

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