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厚度(僅適用微型三角度光澤儀µ):
首先選擇探頭(Fe,NFe)。 屏幕顯示校準菜單。根據(jù)選擇的Fe或NFe探討，將儀器放在金屬標準板 上，按操作按鈕。
零點設置完成后，屏幕顯示”AIR” (空氣），將儀器移至半空，并按動 操作按鈕。 校準完成后屏幕顯示(OK)確認。儀器返回到校準菜單項目。 注意： 膜厚測量通常會受到金屬基材的影響。因此建議可在沒有涂層的金屬 樣品上進行零點校準后，再測量樣品的涂層厚度。此時樣品的基材替 代了隨機附帶的金屬板。
更改校準數(shù)據(jù) :
校準標準的光澤數(shù)據(jù)在隨機附帶的保護罩內(nèi)。在進行自動校準時，跟 據(jù)保護罩內(nèi)的數(shù)據(jù)設定標準。 在有些情況下，有必要輸入新的校準標準數(shù)據(jù)。例如：原配的標準板 損壞或劃傷。
為確保校準，只能使用由原廠提供的標準板 ，只能使用由原廠提供的標準板。 按照左圖顯示的路徑到達更改校準數(shù)據(jù)菜單項。
有三個角度單位在選擇菜單中顯示。按動滾輪，選擇需要的角度。
在修改前，屏幕顯示警告信息。如需取消可按動操作按鈕退出。 如果按下滾輪，您將進入更改校準數(shù)據(jù)程序。
在接下來的屏幕中您可輸入新的校準數(shù)據(jù)。
在您輸入新的數(shù)據(jù)后，屏幕再次顯示警告信息。您可再次按動操作按 鈕取消輸入并退出。 如果您確認屏幕顯示的剛輸入的新數(shù)據(jù)，請按下滾輪。
當更改完所有的數(shù)據(jù)后，請對儀器重新校準。
狀態(tài) :
該菜單項提供您儀器校準狀態(tài)的相關信息。 在該菜單項中您可檢查比對儀器中存儲的校準數(shù)據(jù)和保護罩內(nèi)的校準 數(shù)據(jù)。同時屏幕還個別顯示zui近一次自檢或校準中某個角度的錯誤信 息。錯誤信息的更詳細內(nèi)容參見后面的錯誤和警告信息章節(jié)。
您可以分別對光澤和測厚的測量數(shù)據(jù)標尺進行設置。
膜厚測量 :
膜厚探頭的功能是根據(jù)電磁感應方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。因 此測量結(jié)果在高磁場或電磁波的環(huán)境下產(chǎn)生偏差。 測量的膜厚受到磁性（Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。 測量結(jié)果還會受到諸如復合物或底材熱處理的影響發(fā)生偏差。應此推薦 在沒有涂層的產(chǎn)品上進行零點校準后再進行樣品測量。 對于粗糙的表面也會影響涂層厚度的測量。為了降低隨機誤差，建議使 用多點測量法。 如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測量涂層 膜厚，請注意以下幾點：
● 用于NFe設置，基材厚度至少50µm。（例如非磁性涂層）
● 用于Fe設置，非磁性涂層厚度已包含在測量結(jié)果中。
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