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泰勒便攜式粗糙度儀升級款S128信息
點擊次數(shù):65 更新時間:2026-04-02
Surtronic S128是泰勒霍普森S116的基礎(chǔ)上,針對高精度、復(fù)雜表面的測量需求進行了全面升級,憑借更寬的測量范圍、更強大的參數(shù)分析能力,成為航空航天、精密模具、光學(xué)等領(lǐng)域表面質(zhì)量檢測的核心設(shè)備。
儀器的核心優(yōu)勢在于其的測量性能:測量范圍拓展至400μm,可應(yīng)對鑄鍛件毛坯、大型工件粗加工表面等高粗糙度數(shù)值的測量;分辨率達5nm,噪音地板低至50nm,能精準捕捉納米級的表面微觀紋理變化,滿足航空航天發(fā)動機葉片、精密軸承等對表面質(zhì)量要求高的零部件檢測需求。同時,S128支持ISO 13565-1/2等高級標準,可分析Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2等核心粗糙度參數(shù),幫助用戶深入理解表面的承載能力、潤滑性能與耐磨特性,為工藝優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。
在操作便捷性上,S128同樣配備4.3英寸工業(yè)級彩色觸摸屏,操作邏輯簡潔直觀,一頁可顯示多達7個參數(shù)與系統(tǒng)信息。標配50mm長測針升降裝置與直角附件,孔深可達70mm,無需額外工裝即可測量深孔、窄槽等挑戰(zhàn)性位置;防滑V型腳架與可翻轉(zhuǎn)測針設(shè)計,讓儀器能穩(wěn)定適配平滑、彎曲或倒置的測量表面。
數(shù)據(jù)存儲與管理方面,S128支持大容量U盤擴展,可將不同部件的測量數(shù)據(jù)分類存儲,方便集中管理與轉(zhuǎn)移。通過miniUSB接口連接電腦后,可搭配Talyprofile系列PC軟件(Lite/Silver/Gold),實現(xiàn)數(shù)據(jù)分析、報告生成與實驗室級質(zhì)量管控,滿足航空航天、精密制造等領(lǐng)域?qū)?shù)據(jù)追溯與深度挖掘的嚴格要求。

