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菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215信息
點(diǎn)擊次數(shù)：146 更新時(shí)間：2026-02-25
菲希爾XAN215 FISCHER X射線測(cè)厚儀核心定位與測(cè)量原理
定位：經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式能量色散 X 射線熒光（EDXRF）儀器，主打珠寶、錢(qián)幣、貴金屬的無(wú)損成分分析 + 鍍層厚度測(cè)量，符合 DIN ISO 3497、ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)；
原理：基于基本參數(shù)法（FP），無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)片即可分析固體 / 液體 / 鍍層體系；非接觸、無(wú)損傷，保護(hù)高價(jià)值樣品；
結(jié)構(gòu)：上開(kāi)式防護(hù)罩，測(cè)量方向從下往上；內(nèi)置帶十字線的視頻顯微鏡，便于精準(zhǔn)定位測(cè)點(diǎn)。
典型應(yīng)用
珠寶 / 貴金屬：金、銀、鉑、銠等合金成分快速檢測(cè)（如 K 金純度）、鍍層測(cè)厚（鍍金、銠鍍層）；
錢(qián)幣 / 飾品：古董幣、紀(jì)念幣的材質(zhì)鑒定；
電子 / 電鍍：簡(jiǎn)單多層電鍍體系（如 Cu/Ni/Au）的厚度與成分監(jiān)控；
牙科合金：義齒等貴金屬合金成分分析。
