返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
產(chǎn)品分類
- 哈納代理
- 哈希代理
- 杭州思看
- 英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
- 德國Fischer菲希爾
- 德國Sensopart森薩帕特
- 德國Elektrophysik EPK
- 德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
- 德國BYK
- 德國馬爾 Mahr
- 德國尼克斯QNix
- 德國馬爾Mahr
- 美國SDI
- 美國FLIR
- 美國Mark-10
- 美國狄夫斯高 Defelsko
- 美國GE
- 美國福祿克Fluke
- 美國API
- 英國易高Elcometer
- 日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
- 日本三豐Mitutoyo
- 瑞士TESA
- 瑞士TRIMOS
- 瑞士博勢 Proceq
- 香港嘉儀CanNeed
- 弗勞恩霍夫
技術(shù)文章
當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
菲希爾鍍層測厚儀FISCHER XDL230產(chǎn)品簡介
點(diǎn)擊次數(shù)：847 更新時(shí)間：2025-05-07
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230比例接收器能實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)率
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計(jì)用途 | 能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定鍍層和溶液分析。 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92） |
| 配有可選的WinFTM®BASIC軟件時(shí)，可同時(shí)測定24種元素 | |
| 設(shè)計(jì)理念 | 臺(tái)式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由上往下 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢管 |
| 高壓 | 三檔：30KV，40KV，50KV |
| 孔徑（準(zhǔn)直器） | φ0.3mm 可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm |
| 測量點(diǎn)尺寸 | 取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小 |
| 實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致 | |
| 小的測量點(diǎn)大小約φ0.2mm | |
