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Olympus測厚儀的正確使用方法
點(diǎn)擊次數(shù)：2544 更新時(shí)間：2017-05-08
Olympus測厚儀可以對(duì)幾乎任何材料進(jìn)行的測量。這些測厚儀功能齊備，可極大地提高儀器的測量性能。超聲測厚儀幾乎可以對(duì)大部分材料進(jìn)行測量，其中包括塑料、金屬、金屬復(fù)合材料、橡膠及內(nèi)部腐蝕的材料。
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測量功能和軟件選項(xiàng)的超聲測厚儀。這款*的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭相兼容。
Olympus測厚儀的使用方法
用途廣泛的38DLPLUS既可與雙晶探頭一起使用，測量腐蝕的管道，也可與單晶探頭一起使用對(duì)薄材料或多層材料進(jìn)行極為的厚度測量。
袖珍型26MG超聲測厚儀使用雙晶探頭完成腐蝕測厚應(yīng)用。重量僅為0.24公斤（8.5盎司），具有如自動(dòng)探頭識(shí)別、快速zui小模式、長時(shí)電池壽命等基本性能。
35RDC是一款簡單的Go/No-Go（快速確定產(chǎn)品合格/不合格）的超聲測厚儀，用于探測飛行器復(fù)合結(jié)構(gòu)材料受到撞擊而產(chǎn)生的近表面缺陷。
Magna-Mike是一款使用磁性探頭對(duì)塑料瓶等非鐵性薄材料進(jìn)行厚度測量的霍爾效應(yīng)測厚儀。
Olympus為和腐蝕測厚應(yīng)用提供各種各樣的單晶和雙晶探頭及附件。
可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25MHz～30MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測量。
高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時(shí)間測量。
差分模式和縮減率模式。
時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
Olympus測厚儀的使用方法?帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
戶外顯示設(shè)置，A掃描模式室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式
可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
USB和RS-232通訊端口。
可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。
用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
Olympus測厚儀的使用方法?用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
高溫測量：溫度可高達(dá)500°C。
鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
EMAT探頭（E110-SB），用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量
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